5、逻辑综合――Logic Synthesis
逻辑综合是个比较灵活的环节,有时放在前端,有时放在后端,不同公司不同安排 。
仿真验证通过,进行逻辑综合 。逻辑综合就是把HDL代码翻译成门级网表netlist 。
综合需要设定约束条件,就是你希望综合出来的电路在面积,时序等目标参数上达到的标准 。
6、静态时序分析——STA
静态时序分析,验证范畴,它主要是在时序上对电路进行验证,检查电路是否存在建立时间(setup time)和保持时间(hold time)的违例(violation) 。
这个是数字电路基础知识,一个寄存器出现这两个时序违例时,是没有办法正确采样数据和输出数据的,所以以寄存器为基础的数字芯片功能肯定会出现问题 。
7、形式验证——Formality
验证范畴,它是从功能上(STA是时序上)对综合后的网表进行验证 。
为了保证在逻辑综合过程中没有改变原先HDL描述的电路功能 。
后端设计流程
1、可测性设计——DFT
芯片内部往往都自带测试电路,DFT的目的就是在设计的时候就考虑将来的测试 。
2、布局规划(FloorPlan)
布局规划就是放置芯片的宏单元模块,在总体上确定各种功能电路的摆放位置,如IP模块,RAM,I/O引脚等等 。布局规划能直接影响芯片最终的面积 。
3、时钟树综合——CTS
简单点说就是时钟的布线,由于时钟信号在数字芯片的全局指挥作用,它的分布应该是对称式的连到各个寄存器单元,从而使时钟从同一个时钟源到达各个寄存器时,时钟延迟差异最小 。
这也是为什么时钟信号需要单独布线的原因 。
4、布线(Place & Route)
这里的布线就是普通信号布线了,包括各种标准单元(基本逻辑门电路)之间的走线 。
比如我们平常听到的0.13um工艺,或者说90nm工艺,实际上就是这里金属布线可以达到的最小宽度,从微观上看就是MOS管的沟道长度 。
5、寄生参数提取
由于导线本身存在的电阻,相邻导线之间的互感,耦合电容在芯片内部会产生信号噪声,串扰和反射 。
这些效应会产生信号完整性问题,导致信号电压波动和变化,如果严重就会导致信号失真错误 。
6、版图物理验证
对完成布线的物理版图进行功能和时序上的验证 。
实际的后端流程还包括电路功耗分析,以及随着制造工艺不断进步产生的DFM(可制造性设计)问题 。物理版图验证完成也就是整个芯片设计阶段完成,下面的就是芯片制造了 。
物理版图以GDSII的文件格式交给芯片代工厂(称为Foundry)在晶圆硅片上做出实际的电路,再进行封装和测试,就得到了芯片 。
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